SinicTek3DインラインSPIS8080検査機

技術パラメータ：

検査原理：プログラム可能な位相輪郭変調測定技術（PSLM PMP）

検査タイプ：体積、面積、高さ、XYオフセット、形状、 NS。

欠陥の種類：シフト、過剰なはんだ、不十分なはんだ、オフセット、変形した形状、 NS。

最小コンポーネントサイズ：01005。

精度：XY = 10 um、高さ= 0.37 um。

再現性：高さ：≤1um （（4シグマ）。;体積/エーカー：<1％（（4シグマ）。。

最大負荷PCBサイズ（X * Y）：470x470mm。

検査速度：0.42SEC / FOV。

基準検出時間：0.3秒/個。

最大検出高さ：±±450um（（±±1200umOption）。。

RGBTuneの特許技術。

D-lightingの特許技術。

トレーサビリティを備えたバーコード機能。

マウンターへの不良マーク伝達関数。

IMSシステム機能にアクセスします。

オペレーティングシステムのサポート： Windows 7 Professional（64ビット）。

5分間のプログラミング、ワンクリック操作。

SPCプロセス制御。